Model: S-200 полуавтоматичская
- Размер маски: до 7″ × 7″ / 14″ × 14″;- Размер подложек: до Ø 6″ /- Ø 12 ″;- УФ источник света: 350-2000 Вт;- Точность совмещения: 1 мкм..
0.00 р.
Model: P-150 c ручным управлением
- Размер маски: до 5″ × 5″ / 7″ × 7″;- Размер подложек: до Ø 100 мм / Ø 150 мм;- УФ источник света: 350 Вт / 500 Вт / 1000 Вт;- Точность совмещения: 1 мкм...
0.00 р.
Model: AC 1500-P3/AC 2000-P2
Peter Wolters предлагает выполняемые по индивидуальному заказу высокопроизводительные системы и решения для обработки поверхности пластин и подложек из кремния (Si), сапфира, арсенида галлия (GaAs) и других материалов используемых в производстве изделий микроэлектроники, микрооптики и МЭМС. Системы ..
0.00 р.
Model: C microLine
Станки двухсторонней шлифовки и полировки (double wheel machine) имеют высокую производительность и демонстрируют прогрессивный дизайн и техническое решение, выполненное по последнему слову техники. Модульная система основных компонентов совместно с точностью управления, измерительными инструментами..
0.00 р.
Model: D/MAX RAPID II
D/MAX RAPID II - это двумерный рентгеновский дифрактометр с детектором в виде изогнутой пластины изображения IP (Imaging Plate) большой площади -мощный рывок в мире микродифракции.Прибор позволяет одновременно получать двумерную дифракционную картину широких и малых углов рентгеновского рассеяния.Бы..
0.00 р.
Model: MiniFlex II
MiniFlex II - компактный и портативный рентгеновский дифрактометр, обладающий исключительным соотношением "цена/эффективность", открывает новые перспективы использования рентгеноструктурного метода анализа на предприятиях, в университетах или научных центрах, где ранее этот метод казался недоступным..
0.00 р.
Model: NANO-Viewer
Благодаря нанотехнологиям в различных областях деятельности стали находить применение такие новые материалы, как геномы (белки), полупроводниковые материалы, высокополимерные материалы, экологические материалы и т.д.Прибор рентгеноструктурного анализа NANO-Viewer (измерительный прибор малоуглового р..
0.00 р.
Model: SmartLab
Дифрактометр RIGAKU SmartLab – полностью автоматизированная система для структурного анализа, включающая в себя вертикальный Тета-Тета гониметр с высоким разрешением, оптику параллельного пучка (CBO), модуль поворота плеча гониометра для анализа в плоскости образца, опциональной 9 кВт рентгеновской ..
0.00 р.
Model: TTRAX III
TTRAX III -Прибор, созданный на основе многофункциональной D/MAX-Ultima III системы, усовершенствован заменой источника рентгеновского излучения на сверхмощный рентгеновский излучатель с вращающимся анодом.Из всех рентгеновских дифракционных систем RIGAKU TTRAX III является самой передовой моделью.П..
0.00 р.
Model: Ultima IV
Дифрактометр RIGAKU Ultima IV – новая разработка компании RIGAKU.На сегодняшний день – единственный дифрактометр с реализованной функцией полностью автоматической юстировки гониометра.В дифрактометре Rigaku Ultima IV реализованы все возможные на сегодняшний день опции и приставки для дифрактометров ..
0.00 р.
Model: Автоматический атомно-абсорбционный спектрометр WFX-210
Назначение: охрана окружающей среды, геология, металлургия, химическая промышленность, сельское хозяйство, пищевая промышленность, медицина и.т.д...
0.00 р.
Model: Атомно-абсорбционный спектрометр WFX-110
Метод атомно-абсорбционной спектрометрии с использованием пламени воздух насыщенный кислородом - ацетиленНасыщение воздуха кислородом является новым методом высокотемпературного пламенного атомно-абсорбционного спектрального анализа, применяемого в спектрометре WFX-110 BRAIC (№ 29191-05 в Государств..
0.00 р.
Model: ИСП-спектрометр ICPS-1000-1
Cпектрометр ICPS 1000-I может широко использоваться в областях охраны окружающей среды, геологии, металлургии, химической промышленности, сельском хозяйстве, пищевой промышленности, медицине и.т.д. для быстрого и автоматизированного определения микроскопических и следовых концентраций большинства эл..
0.00 р.
Model: Omega/Theta-Theta сканирования
Omega/Theta рентгеновский дифрактометр представляет собой полностью автоматизированный вертикальный трех-осевой дифрактометр для определения ориентации в различных кристаллов с использованием метода Омега-сканирования и определения кривой качания с использованием метода Тета-сканирования...
0.00 р.
Model: Многопроволочные резки HYM Co., Ltd (Китай)
Научно-технологическое предприятие, основанное в 1999 году. Производство станков для резки, притирки и полировки самых разнообразных поверхностей, где решающее значение имеет сверхточная обработка поверхности. Эти материалы включают в себя защитные линзы, солнечные пластины, магнитные материалы, сап..
0.00 р.
Model: LAPMASTER WOLTERS 3R/4R
Peter Wolters лидер в производстве высокоточных машин и систем для тонкого шлифования, полирования и доводки плоских поверхностей (в т.ч. пластин). С 50-ых годов миссия компании заключается в поставке на рынок станков самого высокого качества и точности, а также решений для обработки плоских поверхн..
0.00 р.
Model: Рентгеновская система 2991F2
Точность проведения измерений + 30”, -30”Габариты и вес -1296х726х1514 мм, 300 кгЗащита от рентгеновского излучения закрытый кожухПитание установки – 100 В, 15 А, 50/60 Гц) ..
0.00 р.
Model: Рентгеновская система FSAS III
Установка включает в себя :рентгеновский генераторматериал мишени рентгеновской трубки – медьсистема охлаждения рентгеновской трубки – охлаждение воздухом с помощью вентиляторамаксимальный номинальный режим работы – напряжение трубки: 30 кВ (фиксированное),ток трубки: до 1 мА (регулируемый)система д..
0.00 р.
Model: Рентгеновские дифрактометры
DDCOM рентгеновский дифрактометр для определения ориентации в монокристаллах метором Омега-сканирования позволяет за один оборот в короткое время, до 5 секунд и с высокой точностью до 1/100° определить ориентацию кристаллической решетки в 3D, что в 200 раз быстрее, чем распространённый метод Tehta-s..
0.00 р.
Model: Exposure System
- Размер маски: до 7″ × 7″;- Размер подложек: 4-6″;- УФ источник света: 350 Вт; ..
0.00 р.
Model: Спетроскопический эллипсометр SE 800
SE 800 - спектроскопический УФ-ВИД (UV-VIS) эллипсометр производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик как однослойных пленок, так и многослойных пленочных стр..
0.00 р.
Model: Спетроскопический эллипсометр SE 850
SE 850 - спектроскопический УФ-ВИД-ИК (UV-VIS-NIR) эллипсометр производства SENTECH Instruments GmbH (Германия) с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик как однослойных пленок, так и многослойных пленоч..
0.00 р.
Model: Установки микросварки 5350
Метод сваркиКлин-клин, ультразвуковаяТип проволоки100…600 мкм, алюминий, катушка 4″Привод по оси Z60 мм, шаг 1 мкмПривод по оси Y4 мм, шаг 2 мкмРабочий стол и манипуляторРазмер «кадра» 18×18 мм, механический привод с фактором перемещения по X/Y 1:7Программируемая сила прижима100…1000 сН..
0.00 р.
Model: Установки микросварки 53XX BDA
Метод сваркиСварка шариком, клин-клин, шарик-клинТип проволоки17,5…75 мкм, золото, алюминий, лента 30×12,5…250×25 мкм, катушка 2″ или 1/2″Привод по оси Z60 мм, шаг 1 мкмПривод по оси Y4 мм, шаг 2 мкмРабочий стол и манипуляторРазмер «кадра» 18×18 мм, механический привод с фактором перемещения по X/Y ..
0.00 р.